Физические параметры | Концентрация водила | 10³cm-³ - 10²³cm-³ |
Мобильность | 0 1. см²/ вольт*сек - 108 см²/ вольт*СЕК |
Диапазон сопротивления | 10-7 Ом*см - 10 Ом¹²*см |
Напряжение Холла | 1 уф - 3V |
Коэффициент Холла | 10-5 - 1027см³/ C |
Testable тип материала | Полупроводниковых материалов | Технологии SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP,AlGaAs, HgCdTe и ферритовые материалы и т.д. |
Низкое сопротивление материала | Graphene, металлов, оксиды азота, слабо магнитных полупроводниковых материалов, TMR материалов и т.д. |
Высокое сопротивление материала | Semi-изолирующие элементами gааs, Ган, основе CdTe и т.д. |
Материал токопроводящих частиц | Напечатайте p и тип N испытаний материалов |
Электрические параметры | Источник тока | 50.00nA- 50.00Ма |
Источник тока резолюции | 0.0001uA |
Измерение напряжения | 0 ~ ± 3V |
Измерение напряжения резолюции | 0,0001 Мв |
Другие аксессуары | Затенения | Extern союзником установлена лампа экран детали сделать пробный материал более стабильной |
Размер выборки | Максимум 10 мм * 10 мм |
Окно кабинета | 600*600*1000 мм |
Образца | Эффект Холла института полупроводников, Китайской академии наук стандартных испытательных образцов и данные: 1, (Si, Ge, элементами gааs, lnSb) |
Процессе принятия решений мультиметрах будут звучать при контакты | Электрический паяльник, indium кристалл, пайки, эмалированные провода и т.д. |
С помощью одной кнопки автоматического режима измерений могут быть выполнены без необходимости в области эксплуатации после проверки |
Программное обеспечение может выполнить I-V кривой и BV кривой |
Комплект программного обеспечения для автоматического измерения температуры |
Экспериментальные результаты измеряются и данные будут временно сохранены в программном обеспечении. В случае длительного хранения данных не требуется, данные могут быть экспортированы в формате EXCEL таблицу для облегчения позднее обработки данных. |
Обеспечить на основе эффекта Холла стандартных испытательных образцов и данных Института полупроводников, Китайской академии наук: 1, |