Поставщики с проверенными бизнес-лицензиями
Сертифицированный Поставщик Анализатор изображений частиц микроскопа/анализатор изображений микрочастиц
I. Введение в продукцию
Имидж-сканер частиц GA-T190 — это новое поколение оборудования для анализа изображений частиц, разработанное нашей компанией. В GA-T190 используется новейшая система сбора микроскопических изображений промышленного класса, что делает наблюдение за образцами более четким. Система программного обеспечения для анализа может анализировать и рассчитывать "данные мономера", "морфологические параметры", "общее распределение" и другие параметры образца, и может легко получить богатые данные, такие как кривая общего распределения образца и описание морфологии частиц. Это профессиональный прибор и оборудование для наблюдения и анализа всех видов проб частиц. Поддерживающее профессиональное программное обеспечение для анализа частиц было модернизировано и усовершенствованное в соответствии с мнением пользователя за последние годы, а компьютер самостоятельно анализирует эквивалентные размеры частиц, X, Y тангенс и другие "мономерные свойства", а также "морфологические параметры", включая соотношение сторон и сферическую степень. При дальнейшем расчете получается общее распределение образца (включая общую кривую распределения и другие богатые данные). Программное обеспечение также увеличивает режим расчета множественной сшивки изображений, что увеличивает количество частиц, участвующих в анализе, таким образом эффективно обеспечивая репрезентатность данных. Наконец, данные образца могут быть получены в виде отчета (включая образцы изображений, диаграммы, списки данных и т.д.), который очень удобен для тестеров в управлении результатами тестирования и их передаче.
Анализатор изображений частиц микроскопа/анализатор изображений микрочастиц
Преимущества продукта
В качестве профессионального инструмента анализа изображений частиц GA-T190 предназначен для использования в производстве частиц или в отраслях, связанных с частицами. Его выдающиеся преимущества в основном отражены в следующих аспектах:
1, высокий профессионализм: По сравнению с различными типами приборов для анализа изображений, выпускаемых другими производителями, наш опыт в исследовании частиц и теория изображений отлично сочетаются, что является профессиональной гарантией "А-Т190 инструмент для анализа частиц". Этот продукт не только научно описывает мономер частиц образца, но и визуализирует распределение частиц с помощью данных, диаграмм и других способов. Может самостоятельно или помочь лазерному прибору размера частиц и другому оборудованию для более эффективного выполнения испытаний частиц.
2. Данные интуитивно понятны, понятны, и результаты анализа понятны на первый взгляд: К распространенным приборам для проверки частиц относятся лазерные измерители размера частиц, измерители размера частиц и т.д., но интуитивное преимущество наблюдения морфологии образца при проведении обнаружения частиц не существует во всех других аппаратуре для проверки частиц, что позволяет пользователям более подробно понять морфологию, состояние, процесс изменения и другую информацию о частицах. Более того, сравнение с интуитивными образцами изображений поможет пользователям лучше понять смысл данных в отчете.
3, широкий спектр применений, высокая цена: «GA-T190 инструмент для отображения частиц» может использоваться как инструмент наблюдения для замены традиционного микроскопа для наблюдения за различными образцами, и может рассчитывать данные образца, интуитивное и простое управление, широкий спектр применений.
Анализатор изображений частиц микроскопа/анализатор изображений микрочастиц
| Параметры оборудования | ||||
| Показать микросистему | Система светового пути | Ограниченная длина механического цилиндра | ||
| Руководитель наблюдательного отдела | шарнирная рытья рытья головка (50–75 мм), телескопическая, 45 100%-ная фотосъемка | |||
| шарнирная бинокулярная головка на 45 градусов (50–75 мм), телескопическая | ||||
| окуляр | WF10X/Ф20mm | |||
| Дальние рабочие расстояния ахроматическая цель | Скорость умножения | Числовая апертура (Сев. Америка) | Рабочее расстояние (W.D.) | |
| 10× | 0.25 | 8.1 | ||
| 25× | 0.4 | 4.8 | ||
| 40×(S) | 0.6 | 3.3 | ||
| Цель фазового контраста | 10× | 0.25 | 8.1 | |
| Увеличение | 40×-400× | |||
| Объективная линза | Четырехлуночный преобразователь объектива с внутренней целью | |||
| Этап перевозки | Двухслойная мобильная платформа: 200 мм х 152 мм, диапазон мобильности: 75 мм х 30 мм | |||
| Конденсатор | N.A.C.4 Аббе конденсатор, рабочее расстояние 30 мм, с держателем цветного фильтра | |||
| Держатель образца | Φ68mm/Φ72 или 77ммX33мм сосуд для культуры | |||
| Устройство фазовой контрастности | 10× фазово-контрастная кольцевая пластина, регулируемая по центру | |||
| Механизм фокусировки | Крупная коаксиальная микрофокусировка, с фиксирующей и ограничивающей пластиной, микрозначение :2μm, диапазон фокусировки:30 мм | |||
| Система освещения | Галогенная лампа 6 в/20 Вт, регулируемая яркость | |||
| Общее увеличение | Четыре раза -- 1,600 раза | |||
| Система визуализации | резолюции i. | 2048×1536 | ||
| размер пиксела | 3.2μm×3.2μm | |||
| Элемент визуализации | CMOS-датчик прогресса сканирования 1/1.8" | |||
| Частота кадров | 6 кадров/с при 2048×1536 / 10 кадров/с при 1600×1200 / 15 кадров/с при 1280×1024 / 30 кадров/с при 640×480 | |||
| Максимальное определение | 900строк | |||
| отношение сигнал/шум | Менее 42 дБ | |||
| Чувствительность | 1,0 в при 550 нм/люкс/с. | |||
| Режим вывода | USB2.0 | |||
| фактический диапазон наблюдения | 1 микрон -3000 микрон | |||
| Параметры программного обеспечения | ||||
| функция программного обеспечения | Статическое сканирование | Морфология образца была взята как BMP высокой четкости изображение | ||
| Обработка изображений | Используйте различные инструменты рисования для простой обработки изображение | |||
| Сшивание изображений | Благодаря бесшовной сшивки нескольких изображений в тесте частиц можно получить больше частиц, чтобы повысить репрезентативность теста | |||
| Набор инструментов для автоматической обработки гранул | 12 автоматических инструментов обработки, таких как автоматическое устранение склеивания частиц, автоматическое устранение различных точек, автоматическое удаление неполных краевых частиц, автоматическое заполнение полостей частиц, автоматическое сглаживание краев частиц и т. д. | |||
| Калибровка шкалы | После калибровки с помощью микрометра, соответствующего стандарту страны, фактический размер частиц можно получить непосредственно, выбрав значение шкалы, соответствующее объективным линзам в каждом тесте. | |||
| Отдельные данные о частице | На изображении одной частицы можно непосредственно проанализировать более 10 параметров, таких как площадь поперечного сечения, объем и соотношение сторон | |||
| Механизма управления задачами | Строгий механизм управления задачами позволяет пользователям управлять всеми тестовым данными упорядоченным образом. | |||
| Вывод отчета | Результаты теста выводятся в виде отчета, и стиль отчета можно настроить. | |||
| Общие параметры распределения | D10, D50 (средний диаметр), D90, D100 и другие характерные параметры распределения частиц | |||
| Параметры отчетности | Общее распределение частоты Общее распределение | Таблицы данных, графики, гистограммы и т.д. распределения частоты и совокупного распределения частиц в зависимости от количества, объема, площади и т.д. | ||
| Статистический средний путь | Xnl, Xns, XNV, xls, XLV, Xsv и другие широко используемые статистические средние диаметры | |||
| Параметр формы | Более 10 часто используемых данных для определения формы частиц, таких как соотношение сторон, коэффициент массы, сферность, соотношение поверхности, определенная площадь поверхности, и параметры внешнего прямоугольника | |||
| Статистика количества | Количество наблюдаемых частиц получено напрямую | |||
| Образец миниатюры | В отчет можно вывести образцы эскизов | |||
| Ввод жатки | В заголовок отчета можно ввести несколько данных, таких как название образца, единицы измерения и дисперсионный носитель | |||
| Логотип на заказ | Пользователи могут настроить ЛОГОТИП и имя отчета таким образом, чтобы в отчете о результатах отображались сведения о своей компании | |||
Поставщики с проверенными бизнес-лицензиями
Сертифицированный Поставщик 
