BestScope BS-6026TRF джойстик сенсорный экран исследование с электроприводом вертикальный металлургический микроскоп

• After-sales Service: 3 years
• Magnification: 500-1000X
• Type: Metallographic
• Number of Cylinder: ≥Three
• Mobility: Desktop
• Stereoscopic Effect: Without Stereoscopic Effect
• Модель №.: BS-6026TRF
• Kind of Light Source: LED Light
• Shape: Cylindrical Shaped Lens
• Usage: Teaching, Research
• Principle: Optics
• Principle of Optics: NIS45 Infinite Color Corrected
• освещение: отраженный свет (&a)
• окуляр: sw10x/25мм
• носовой наконечник: секстюпл
• этап: двухслойный
• Транспортная Упаковка: Standard Export Carton with Strong Sponge
• Характеристики: 47*39*84
• Торговая Марка: BestScope
• Происхождение: Beijing, China
• Производственная Мощность: 1000/Month

Описание Товара

Введение

Автоматические вертикальные металлургические микроскопы серии BS-6026 с автоматической фокусировкой разработаны для обеспечения безопасного, комфортного и точного наблюдения. Моторизированная ступень X-Y, автоматическая фокусировка, контроллер сенсорного экрана, мощное программное обеспечение и джойстик упрощают работу. Программное обеспечение имеет функции управления движением, объединения глубины резкости, переключения объектива, регулировки яркости, автоматической фокусировки, сканирования области, функции сшивания изображений.

Благодаря широкому полю зрения, полуахроматическим и ахроматическим задачам светлого/темного поля, эргономичной операционной системе, они рождаются, чтобы обеспечить идеальное решение для исследований и разработать новую модель промышленных исследований.

Сенсорный ЖК-экран перед микроскопом, на котором можно отображать информацию об увеличении и освещении.

Функции

1. Превосходная бесконечная оптическая система.
Благодаря превосходной бесконечной оптической системе вертикальный металлургический микроскоп серии BS-6026 обеспечивает высокое разрешение, высокое разрешение и хроматическую аберрацию, которые могут отображать детали вашего образца очень хорошо.
2. Модульная конструкция.
Микроскопы серии BS-6026 разработаны с модульностью, что позволяет использовать их в различных областях промышленности и науки о материалах. Это дает пользователям гибкость при создании системы, отвечающую конкретным потребностям.

3. Включите линейный двигатель и режим винтового привода.
Низкоручной электрический механизм фокусировки, независимое управление левым и правым колесами, регулировка трех скоростей, диапазон фокусировки 30 мм, точность позиционирования повтора: 0.1μm.

4. Наклонная тринокулярная голова является дополнительной функцией.

(1) трубка для ушей может быть отрегулирована в диапазоне от 0° до 35°.
(2) Цифровые камеры или цифровые зеркальные камеры можно подключить к тринокулярной трубке.
(3) делитель пучка имеет 3 положения (100:0, 20:80, 0:100).
(4) разветвитель можно установить с обеих сторон в соответствии с требованиями пользователя.
5. Управление осуществляется с помощью рукоятки управления (джойстика), сенсорного ЖК-экрана и программного обеспечения.
Этот микроскоп может реализовать яркость светодиодов, переключение объектива, автофокусировку и электрическую регулировку оси X-Y-Z с помощью программного обеспечения и рукоятки управления. Программное обеспечение может реализовать глубину объединения полей, переключение объектива, управление яркостью, автофокусировку, сканирование области, сшивание изображений и другие функции.
6. Удобство и простота использования.
(1) полуAPO и APO светлое поле и темное поле плана NIS45 Infinite Plan.
Благодаря высокопрозрачному стеклу и усовершенствованной технологии покрытия объективный объектив NIS45 обеспечивает изображения высокого разрешения и точное воспроизведение естественного цвета образцов. Для специальных применений доступны различные цели, включая поляризацию и дальние рабочие расстояния.
(2) Nomarski DIC.
При использовании нового модуля DIC разница высот образца, которую невозможно обнаружить с помощью функции Brightfield, становится рельефным или трехмерным изображением. Он идеально подходит для наблюдения частиц, проводящих ЖК-дисплей, и царапин на поверхности жесткого диска и т.д.

7. Различные методы наблюдения.

 

Затемнение (Wafer) Затемнение позволяет наблюдать рассеянный или дифрагированный свет образца. Все, что не плоское, отражает этот свет, а все, что плоское, кажется темным, поэтому недостатки четко выделяются. Пользователь может определить наличие даже минутной царапины или дефекта до уровня 8 нм, что меньше предела разрешающей мощности оптического микроскопа. Затемнение идеально подходит для обнаружения мельчайших царапин или дефектов на образце и анализа образцов зеркальных поверхностей, включая пластины.

Дифференциальная интерференция Контрастность (проводящие частицы) DIC — это микроскопическая методика наблюдения, при которой разница высот образца, не обнаруживаемого с помощью светлого поля, становится рельефным или трехмерным изображением с улучшенной контрастностью. В этом методе используется поляризованный свет, который можно настроить с помощью трех специально разработанных призм. Он идеально подходит для исследования образцов с очень минутными перепады высоты, включая металлургические структуры, минералы, магнитные головки, жесткие диски и полированные поверхности пластин.

 

Наблюдение за передаваемым светом (ЖК-дисплей) Для прозрачных образцов, таких как ЖК-дисплеи, пластмассы и стеклянные материалы, можно использовать различные конденсаторы для наблюдения за передаваемым светом. Исследование образцов в передаваемой светлее и поляризованном свете можно выполнить в одной удобной системе.

Поляризованный свет (асбест) Этот метод микроскопического наблюдения использует поляризованный свет, генерируемый набором фильтров (анализатором и поляризатором). Характеристики образца непосредственно влияют на интенсивность света, отраженного в системе. Подходит для металлургических структур (т.е., роста графитового на железе для высокомолекулярного литья), минералов, ЖК и полупроводниковых материалов.

 

Приложение

Моторизированные вертикальные металлургические микроскопы серии BS-6026 с автоматической фокусировкой широко используются в институтах и лабораториях для наблюдения и идентификации структуры различных металлов и сплавов, они также могут использоваться в электронике, химической и полупроводниковой промышленности, таких как полупроводниковые пластины, керамика, интегральные схемы, электронные чипы, Печатные платы, ЖК-панели, пленка, порошок, тонер, проволока, волокна, покрытия с покрытием, другие неметаллические материалы и т.д.

Технические характеристики

Пункт	Технические характеристики		BS-6026RF	BS-6026TRF
Оптическая система	Оптическая система NIS45 с бесконечной цветокоррекцией (длина трубки: 200 мм)		*	*
Смотровая головка	ERGO Наклон. Транокулярная головка, регулируемая, наклонная на 0–35°, межпистолное расстояние 47мм–78мм; коэффициент расщепления окуляр:тринокулярный=100:0 или 20:80 или 0:100		○	○
	Транокулярная голова Seidentopf, наклонная под углом 30°, межпистолное расстояние: 47–78 мм; коэффициент расщепления окуляр:тринокулярный=100:0 или 20:80 или 0:100		*	*
	Бинокулярная голова Seidentopf, наклонная на 30°, межпистолное расстояние: 47—78 мм		○	○
Окуляр	Сверхширокая наглазник для плана поля SW10X/25 мм, регулируемый диоптрий		*	*
	Сверхширокий наглазник SW10X/22mm, регулируемый диоптрий		○	○
	Насадка для сверхширокой полевой схемы EW12.5X/16 мм, с диоптрией		○	○
	Широкоугольный наглазник WF15X/16 мм, регулируемый диоптрий		○	○
	Широкоугольный наглазник WF20X/12mm, регулируемый диоптрий		○	○
Цели	План бесконечной LWD NIS45, полуAPO цель (BF и DF)	5X/NA=0.15, WD=20 ММ	*	*
		10X/NA=0.3, WD=11 ММ	*	*
		20X/NA=0.45, WD=3,0 ММ	*	*
	NIS45 Infinite LWD Plan APO Objective (BF и DF)	50X/NA=0.8, WD=1,0 ММ	*	*
		100X/NA=0.9, WD=1,0 ММ	*	*
	План бесконечной LWD NIS60, полуAPO, цель (BF)	5X/NA=0.15, WD=20 ММ	○	○
		10X/NA=0.3, WD=11 ММ	○	○
		20X/NA=0.45, WD=3,0 ММ	○	○
	NIS60 Infinite LWD Plan APO Objective (BF) (цель APO для бесконечного плана каротажа	50X/NA=0.8, WD=1,0 ММ	○	○
		100X/NA=0.9, WD=1,0 ММ	○	○
Носовая накладка	Задний моторизованный сексуальный носовой окуляр (с слотом DIC)		*	*
Конденсатор	КОНДЕНСАТОР LWD N.A.C.65		○	*
Передаваемая подсветка	Лампа S-LED 3 Вт, предварительная установка по центру, регулировка интенсивности		○	*
Отраженная подсветка	Отраженный свет 5 Вт светодиод, подсветка Koehler, с 6-позитной револьверной головкой		*	*
	Модуль BF1 для работы в условиях яркого поля		○	○
	Модуль BF2 для работы в условиях яркого поля		*	*
	Модуль df для работы в темном поле		*	*
	Встроенный фильтр ND6, ND25 и фильтр коррекции цвета		○	○
Управление с помощью электропривода	Панель управления носовыми насадками с кнопками. 2 наиболее часто используемых целей можно установить и переключить нажатием зеленой кнопки. После изменения цели интенсивность света будет автоматически отрегулирована		*	*
Фокусировка	Моторизованный механизм автоматической фокусировки с низкой рукой, независимое управление левым и правым колесами, трехскоростная регулировка скорости, диапазон фокусировки 30 мм, точность позиционирования при повторении: 0.1μm, механизм эвакуации и восстановления с помощью электропривода		*	*
Макс. Высота образца	76 мм		*
	56 мм			*
Этап	Высокоточная моторизованная двухслойная механическая ступень X-Y, размер 275 X 239 X 44.5 мм; ход: Ось x, 125 мм; ось Y, 75 мм. Точность позиционирования при повторном позиционировании ±1.5μm, максимальная скорость 20 мм/с.		*	*
Комплект DIC	Комплект DIC для отраженного освещения (может использоваться для задач 10X, 20X, 50X, 100X)		○	○
Поляризационный комплект	Поляризатор для отраженного освещения		○	○
	Анализатор отраженного освещения, поворот на 0-360°		○	○
	Поляризатор для передаваемого освещения			○
	Анализатор для передаваемой подсветки			○
Другие аксессуары	Адаптер с креплением C 0,5 шт.		○	○
	1 АДАПТЕР C-mount		○	○
	Пылезащитная крышка		*	*
	Кабель питания		*	*
	Калибровочный слайд 0,01 мм (микрометр-сценический)		○	○
	Образец Presser		○	○

Примечание: * Стандартный внешний комплект, ○ опционально

Образец изображения