Manufacturing Technology: | Optoelectronic Semiconductor |
---|---|
Material: | Element Semiconductor |
Type: | Silicon Wafer G1, M6 Wafer |
Package: | Customize as Per Demand |
Signal Processing: | Analog Digital Composite and Function |
Application: | Temperature Measurment & Optics Applying |
Поставщики с проверенными бизнес-лицензиями
Технические параметры уровня диода 3-дюймовый однокристальный чип |
Технические параметры уровня диода 4-дюймовый однокристальный чип |
1. Размер 1.1 Диа кремниевого вафера :76.2 +/- 0,4 мм 1.2 изгиб: ≤0,035 мм 1.3 Толщина Допуск :≤0.03 мм 1.4 отклонение от вертикали Диагональные линии прямоугольника на пленке составляют равно Допуск:+/-0,5 мм 2. Технические данные 2.1 проводящие параметры: Тип N 2.2 сопротивление: 5-6OΩ .cm или настроено 2.3 миноритарный перевозчик срок службы : ≥100 μ с. 2.4 Содержание кислорода: <1.0 ×1018 атомов/см3 2.5 Содержание углерода : <5.0 × 1016 атомов/см3 2.6 Ориентация кристаллов: 111± 1.50 2.7 плотность смещения : ≤3000 шт. /см3 2.8 Толщина:280-305μm |
1. Размер 1.1 диам кремниевого вафера: 100±0,5 мм 1.2 TTV: 0.005μm 1.3 изгиб: ≤0,030 мм 2.Технические данные 2.1 сопротивление: 5-60Ω.см или по индивидуальному заказу 2.2 проводящие параметры: Тип N 2.3 срок службы миноритарного перевозчика: ≥100μs 2.4 Содержание кислорода: <1×1018 атомов/см3 2.5 Содержание углерода : <5×1016 атомов/см3 2.6 Ориентация кристалла: 111±1.5° |
Технические параметры 6-дюймового монокристалла микросхема для солнечной батареи |
Технические параметры 6-дюймового одиночного кристальная микросхема для солнечной батареи |
1. Размер 1. 1 Диам. Кремниевого вафера: 160/150±0,4 мм 1. 2 Ширина кремниевой подложки: 125±0,4 мм 1. 3 Толщина кремния: 200/190±20μm 1. 4 TTV: 0,03 мм 1. 5 отклонение от вертикали Диагональные линии прямоугольника на пленке составляют равно Допуск: ±0,5 мм 1. 6 изгиб: ≤0,035 мм 2. Технические данные 2.1 сопротивление: 0.5-3Ω.см. 2.2 проводящие параметры: Тип N/P. 2.3 срок службы миноритарного перевозчика: ≥10μs 2.4 Содержание кислорода: <1×1018 атомов/см3 2.5 Содержание углерода : <10×1016 атомов/см3 2.6 Ориентация кристалла: (100)±2.0° 2.7 плотность дислокации :≤ 1×103шт/см3 |
1. Размер 1. 1 Диам. Кремниевого вафера: 195/200/205±2,0 мм 1. 2 Ширина кремниевой подложки: 156±0,4 мм 1. 3 Толщина кремния: 200/190±10μm 1. 4 TTV: ≤40μm 1. 5 отклонение от вертикали: 90°±3° 1. 6 изгиб: ≤0,035 мм 2. Технические данные 2.1 сопротивление: 0.5-3/3-6Ω.см. 2.2 проводящие параметры: Тип N/P. 2.3 срок службы миноритарного перевозчика: ≥10μs 2.4 Содержание кислорода: <1×1018 атомов/см3 2.5 Содержание углерода : <10×1016 атомов/см3 2.6 Ориентация кристалла: (100)±2° 2.7 плотность дислокации : ≤1×103шт/см3 |
Поставщики с проверенными бизнес-лицензиями