| Индивидуализация: | Доступный |
|---|---|
| Послепродажное обслуживание: | онлайн |
| Гарантия: | 1 год |
Поставщики с проверенными бизнес-лицензиями
Сертифицированный Поставщик Проверено независимым сторонним инспекционным агентством
Анализатор спектрометра/датчик толщины покрытия/детектор RoHS
1. Введение в продукт:
Новое поколение дизайна, это уникальное чувство науки и техники одномашинного многоцелевого спектрометра, использующего усовершенствованный алгоритм EFP и технологию кластеризации при слабом освещении с новым поколением многоканального своевременного секвенирования, Специальный тип не только сохраняет характеристики специального толщиномера для обнаружения небольших образцов и канавок, но и может соответствовать обнаружению RoHS микрорайона и полному анализу элементов. Каждая функция является самой профессиональной.
2. Преимущества производительности
Определение микрообразца Минимальная измерительная площадь 0,03 мм² алгоритм Zoom device (Масштабирование) Расстояние измерения можно изменить для измерения вогнутых и выпуклых образцов, а расстояние масштабирования может достигать 0-30 мм Расширенный алгоритм EFP Li(3)-U(92) покрытие элемента, несколько слоев нескольких элементов, Даже один и тот же элемент в разных слоях может быть точно измерен Технология расширенного разрешения спектра снижает помехи от аналогичных элементов энергии и уменьшает предел обнаружения высокопроизводительный детектор Высокая производительность полупроводниковый дрейф-детектор SDD с точностью измерений до нанометрового уровня рентгеновское устройство Microfфокусом улучшенная рентгеновская трубка с. Фокусирующее устройство одно устройство многоцелевое, точное испытание мелкое одновременно для того чтобы соответствовать покрытию, RoHS, и определение состава сплава, и будет тонким испытанием, каждое применение профессиональное
|
Номер модели |
LR-161CS | LR-1614C |
| Анализ покрытия | Он может одновременно анализировать 23 покрытий и 24 видов элементов, а также анализировать и обнаруживать 90 видов элементов покрытия Li(3)-U(92) с одинаковыми элементами в разных слоях | |
| Анализ RoHS | Минимальный предел обнаружения вредных элементов (RoHS, галогенов) составляет 2 ppm | Минимальный предел обнаружения вредных элементов (RoHS, галогенов) составляет 1 ppm |
| Анализ компонентов | S(16)-U(92) | Al(13)-U(92) |
| Алгоритм EFP | стандарт | |
| Работа программного обеспечения | закрытая программа с гуманизацией, автоматически оценивает действия по устранению неисправностей и устранению неполадок во избежание их неправильной работы | |
| Время анализа | 3-200 секунд | 1-200 секунд |
| Детектор | Полупроводниковый детектор с разъемом SI-PIN | Детектор кремниевого дрейфа SDD |
| Рентгеновское устройство | Улучшенная рентгеновская трубка Microfфокусной системы | |
| коллиматор |
Стандарт: 0.1*0,3 мм; Пхи 0.3 мм; Пхи 1.2 мм; φ3mm 4 коллиматора автоматическое переключение (Дополнительно φ0.2mm; Phi 0.5 мм; Phi 1.2 мм; Phi 3 мм)
|
|
| Технология низкой концентрации света | недавно измеренное значение диффузии пятна составляет менее 10% | |
| Фильтр | Четыре типа фильтров свободно переключаются | |
| Расстояние измерения | С помощью функции компенсации расстояния можно изменить расстояние измерения вогнутых и выпуклых образцов, расстояние масштабирования 0–30 мм | |
| Наблюдение за образцами | 1/2.7 "цветная ПЗС-матрица, функция масштабирования | |
| Режим фокусировки | Высокочувствительный объектив, ручная фокусировка | |
| увеличение | Оптический 38-46X, цифровое усиление 40-200 раз | |
| Размер прибора | 545 мм*380 мм*435 мм | |
| Высота камеры для образцов | 210 мм | |
| Режим перемещения стола для образцов | Высокоточный направляющий рельс XY | |
| Диапазон перемещения | 50 мм*50 мм | |
| вес прибора | 50 кг | |
| Другие аксессуары |
Набор компьютера, принтера, ящика для принадлежностей, 12-элементная пленка, стандартный лист RoHS, измерение раствора электролитического покрытия Мерный стакан (дополнительно), стандартная пластина (2 из 10) |
|
| Стандарты рентгеновского излучения | DIN ISO3497, DIN 50987 И ASTMB568 | |
