FM-Nanoview постукивая сертификат ISO атомной силой Микроскоп
FM-Nanoview 1000 flyingman AFM атомной силой Микроскоп
описание продукта
Установка функции
1. головки сканирования и образцы этапе разработаны вместе, strong антивибрационный производительность
2. Точность лазерного обнаружения и датчик выравнивания устройства делают лазерный простота и легкость регулировки;
3. адаптации для привода серводвигателя образец приближается к tip вручную или автоматически, для достижения точности позиционирования области сканирования.
4. С высокой точностью и большой диапазон передачи образца устройства позволяют сканировать все интересные области образец ;
5. Оптическая система наблюдения для наконечника сопла и позиционирование образца.
6. электронная система разработана как модульный и просто для поддержания и дальнейшего развития.
7. Принять пружины для изоляции вибрации, простых и хорошую производительность.
Ii. Программное обеспечение
1. два вида пикселей для отбора проб для выбора: 256×256, 512×512;
2. Запустите сканирование области перемещения и функции, выберите любые интересные области образцов;
3. Пример сканирования в произвольном угол в начале;
4. Отрегулируйте Лазерная система обнаружения спот в режиме реального времени;
5. Выбрать и установить различные цвета при сканировании изображения в палитре.
6. Поддержка линейных среднее и калибровки смещения в режиме реального времени для выборки записи;
7. Поддержка сканер калибровки чувствительности и электронного контроллера автоматической калибровки;
8. Поддержка автономного анализа и процесса пример изображения.
параметры продукта
Iii. Основные технические параметры
| Пункт |
Технические данные |
Пункт |
Технические данные |
| Режимы работы |
Обратитесь в режиме, режиме трения, расширенные режимы использования , фаза, MFM, МЧФ. |
Угол сканирования |
Случайная |
| Размер выборки |
Φ≤90мм,H≤20мм |
Пример движения |
0~20мм |
| Макс. диапазон сканирования |
X/Y: 20 um Z: 2 um |
Ширина импульса к мотор |
10±2 мс |
| Резолюции |
X/Y: 0,2 Нм, Z: 0,05 Нм |
Оптическая система |
Увеличение: 4X, разрешение: 2,5 um |
| Скорость сканирования |
4.340.6Hz~Гц |
Точки данных |
256×256,512×512 |
| Управление сканирования |
XY: 18-бит D/A- Z: 16-бит D/A |
Тип обратной связи |
DSP цифровой обратной связи |
| Выборки данных |
Один 14-разрядный АЦП и двумя 16-разрядный АЦП и нескольких каналов одновременно |
| Подключение к компьютеру |
USB2.0 |
Частота дискретизации обратной связи |
64.0Кгц |
| Windows |
Совместимость с Windows98/2000/XP/7/8 |
FSM построен в 2013. За последние 9 лет мы сосредоточили свои усилия на создании инструментов для лабораторных работ и фабрик.
Мы предоставляем атомной силой микроскоп для нормального физического воспитания и wifer инспекции.
Это лучшее соотношение затрат AFM.
Подробные фотографии
Почему мы?
1.На протяжении многих лет опыта в сфере производства и обслуживания.
2.Мы производителя, которое может дать вам льготные цены
3.ISO9001 .
4.пожизненная гарантия послепродажного обслуживания.
5.OEM Service доступна.
6. строгого контроля качества до отгрузки.
Сертифицированный Поставщик 
